手持式合金分析儀中的基體效應(yīng):在實(shí)際工作中，被測(cè)樣品的成分通常由多種元素組成，除被測(cè)元素外的元素統(tǒng)稱(chēng)為基體。在被測(cè)樣品中，其基體成分發(fā)生變化(這種變化一是元素的變化，二是含量的變化)，直接影響被測(cè)元素特征x射線強(qiáng)度的測(cè)量。換句話說(shuō)，被測(cè)元素含量相同，由于其基體成分不同，被測(cè)元素特征x射線強(qiáng)度不同，這就是基體效應(yīng)。基體效應(yīng)是x射線熒光定量分析的主要誤差來(lái)源之一。
 

　　基體效應(yīng)是不可避免的客觀事實(shí)，其物理本質(zhì)是刺激(吸收)和散射引起特征x射線強(qiáng)度的變化，除了待測(cè)元素外，基體成分中接近待測(cè)元素的元素對(duì)刺激源的放射線和待測(cè)元素的特征x射線產(chǎn)生光電效應(yīng)的概率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于輕元素(地質(zhì)樣品中常見(jiàn)的主要造巖元素)，即這些相鄰元素對(duì)刺激源發(fā)射的x射線和待測(cè)元素的特征x射線的吸收系數(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于輕元素。
 

　　為了便于描述，假設(shè)樣品中有待測(cè)量元素A、相鄰元素B、C和輕元素。B元素的原子序數(shù)大于A元素的原子序數(shù)，B元素可以被放射源釋放的輻射激發(fā)產(chǎn)生B元素的特征。X射線BK，BKX輻射可以激發(fā)A元素;C元素的原子序數(shù)小于待測(cè)元素A的原子序數(shù)，可以被A元素特征X輻射激發(fā)產(chǎn)生C元素特征X輻射;輕元素的原子序數(shù)遠(yuǎn)離A、B、C元素的原子序數(shù)，激發(fā)的概率很小，可以忽略不計(jì)，所以對(duì)待測(cè)元素A特征X輻射強(qiáng)度的影響如下:
 

　　1、放射源釋放的輻射刺激待測(cè)元素A，產(chǎn)生特征X輻射AK線稱(chēng)為光電效應(yīng)。
 

　　2、AKX線在樣品出射時(shí)遇到C元素激發(fā)C元素特征X射線CK，而A元素特征X射線強(qiáng)度降低，稱(chēng)為吸收效應(yīng)。
 

　　3、放射源刺激B元素，BKX線刺激A元素，增加A元素特征X射線計(jì)數(shù)，稱(chēng)為增強(qiáng)效應(yīng)，也稱(chēng)為二次熒光。
 

　　4、放射源刺激元素C和元素B，降低刺激元素A的概率。
 

　　5、放射源放射線與輕元素相互作用產(chǎn)生康普頓效應(yīng)，可發(fā)生一次康普頓效應(yīng)，也可發(fā)生多次康普頓效應(yīng)，發(fā)生康普頓效應(yīng)后，部分射線能量損失可激發(fā)元素A、B、C，也可不起作用，稱(chēng)為康普頓效應(yīng)。
 

　　上面只描述了一個(gè)簡(jiǎn)單的圖像，事實(shí)上，X射線的吸收，增強(qiáng)，散射過(guò)程要復(fù)雜得多。如果待測(cè)元素與標(biāo)準(zhǔn)基體成分不一致，必然會(huì)使分析結(jié)果產(chǎn)生較大的誤差。它是吸收效應(yīng)，增強(qiáng)效應(yīng)，散射效應(yīng)的影響，統(tǒng)稱(chēng)為基體效應(yīng)。